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小麦叶片胁迫状态下的高光谱图像特征分析研究
摘要：作物在遭受各种胁迫下的长势及健康诊断是精细农业操作的重要环节.高光谱成像技术具有图谱合一的优势,已成为近年来国内外研究的热点.本文以叶片尺度的小麦为研究对象,利用自主研发的成像光谱仪,采集遭受养分、病虫害胁迫的小麦叶片高光谱图像,利用逐像素平均法增强光谱特征,根据反射率差异进行分析研究.结果表明,提取的高光谱能够反映不同叶位叶片的养分差异,还能利用成像图直观地进行作物养分胁迫程度判断;利用成像光谱仪2nm的光谱分辨率和毫米级的空间分辨率,在作物感染病害时,既町定量每个叶片的病斑个数,又能定性地分析感染而积对叶片造成的影响;在作物遭受虫害时,可对蚜虫群体甚至单个蚜虫的光谱信息进行提取,这为定量研究蚜虫对小麦叶片的危害提供了新的手段.上述结果充分说明成像高光谱在作物长势定量定性分析研究中具有独特的优势. 作者： 张东彦[1] 张竞成[1] 朱大洲[2] 王纪华[1] 罗菊花[2] 赵晋陵[2] 黄文江[2] Author： ZHANG Dong-yan[1] ZHANG Jing-cheng[1] ZHU Da-zhou[2] WANG Ji-hua[1] LUO Ju-hua[2] ZHAO Jin-ling[2] HUANG Wen-jiang[2] 作者单位： 国家农业信息化工程技术研究中心,北京,100097;浙江大学农业遥感与信息技术应用研究所,浙江杭州,310029国家农业信息化工程技术研究中心,北京,100097 期 刊： 光谱学与光谱分析 ISTICEISCIPKU Journal： SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2011, 31(4) 分类号： S127 关键词： 高光谱成像 特征分析 胁迫 小麦叶片 机标分类号： S51 S5 机标关键词： 小麦叶片 养分胁迫 高光谱图像 图像特征 分析研究 Stress Different Wheat Leaves Image 作物长势 成像光谱仪 蚜虫 光谱成像技术 空间分辨率 光谱分辨率 定性地分析 自主研发 遭受虫害 优势 养分差异 基金项目： 国家自然科学基金项目，国家高新技术研究发展计划(863计划)项目，农业部行业科技项目 小麦叶片胁迫状态下的高光谱图像特征分析研究[期刊论文] 光谱学与光谱分析 --2011, 31(4)张东彦 张竞成 朱大洲 王纪华 罗菊花 赵晋陵 黄文江作物在遭受各种胁迫下的长势及健康诊断是精细农业操作的重要环节.高光谱成像技术具有图谱合一的优势,已成为近年来国内外研究的热点.本文以叶片尺度的小麦为研究对象,利用自主研发的成像光谱仪,采集遭受养分、病虫害胁迫...【小麦叶片胁迫状态下的高光谱图像特征分析研究】上海花千坊相关的文章：
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